全自动半导体测量分析系统 半导体/IC测试解决方案 -天宇微纳详细介绍

半导体特性分析系统主要测试的指标包括电流-电压(I-V)特性、电容-电压(C-V)特性、电阻-电压(R-V)特性等。通过这些测试，可以得到半导体的能带间隙、载流子浓度、迁移率、介电常数等参数，从而对半导体的电学特性进行分析和评估。此外，还可以通过范德堡方法测量半导体的电阻率。

ATECLOUD-IC集成电路云测试平台可以对半导体特性进行系统化的测试，主要有：

支持MCU、AnalogIC、ADC、HIC、IGPT及分立器件测试;

ns级精度同步测试;

人性化操作界面，可快速理解、快速上手;

无代码快速搭建测试工步，灵活调整可快速扩展;

支持多工位高速并行测试;

高效支持表征、功能评估和批量生产评估;

已兼容2000+仪器型号，包含是德、泰克、R&S普源、鼎阳、艾德克斯等厂家，支持设备持续扩展;

具备数据洞察及大数据分析功能，为科研生产提供数据支撑;

适用于研发/中试/生产芯片全生命周期的应用。

ATECLOUD平台优点：

智能自动化测试，提高效能30倍;

开放式无代码搭建，业务定制不依赖开发团队;

软硬件持续兼容升级，打破传统系统软硬捆绑局面;

成长性平台，业务升级无需推倒重来，数据经验不流失;

数据洞察、精益看板与大数据分析驱动用户生产力;

分布式架构，支持局域网与云部署。