| 产品特性：MCU测试 | 是否进口：否 | 产地：陕西西安 |
| 加工定制：是 | 品牌：纳米软件 | 型号：ATECLOUD-IC |
| 产品用途：芯片自动化测试 | 规格：根据测试需求个性化定制 | 测试项目支持：MCU、AnalogIC、ADC、HIC、IGBT |
| 测试精度：纳秒级精度 | 仪器兼容：兼容2000+仪器 | 测试效能：提高效能30倍 |
| 软件部署：局域网与云部署 |
芯片自动化测试系统ATECLOUD-IC
测试产品：芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。
被测项目：温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。
测试场景：研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。
MCU测试痛点：
测试项目自动化、半自动化占比低重复性工作占用大量人力
在纳米软件ATECLOUD智能云测试平台上开发自动化测试程序，取代重复操作，提高测试效率
灵活定义测试用例，提高特性分析的覆盖率帮助建立可靠的失效模型
易用可视化的调试环境，助力定位解决测试异常
部分测试项目没有完备的方法，需要定制的软硬件方案和服务
客制化软件测试服务，覆盖特殊测试项目自动化需求
针对不同场景的定制硬件选型，提供可控高测试项覆盖率方案
MCU产品线型号多，外设模块多，测试系统需要统一的管理
帮助将测试方法标准化、提炼出测试IP，提高可复用性，缩短开发时间
利用IP分发管理平台，帮助建立规范测试软件管理流程
以标准软件兼容多种硬件的思路，为不同MCu产品测试需求维护硬件资源，统一测试系统的管理
测试数据的收集、分析和合规评审，缺少标准、易用的工具
利用大数据分析工具，快速构建实验室数据管理和报表分析，进行多维度数据处理
针对大批量的数据处理，可帮助工程师快速向研发端提供失效模型分析和数据溯源，指导产品设计迭代和工艺检查
更好支持车规认证等要求，提供数据的可追溯
ATECLOUD-IC智能云测试平台MCU测试优点：
支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT及分立器件等测试
ns级精度同步测试
人性化操作界面，可快速理解、快速上手
无代码快速搭建测试工步，灵活调整可快速扩展
支持多工位高速并行测试
高效支持表征、功能评估和批量生产评估
已兼容2000+仪器型号，包含是德、泰克、R&S普源、鼎阳、艾德克斯等厂家，支持设备持续扩展
具备数据洞察及大数据分析功能，为科研生产提供数据支撑
适用于研发/中试/生产芯片全生命周期的应用
