| 产品特性：自动化测试 | 是否进口：否 | 产地：陕西西安 |
| 加工定制：是 | 品牌：纳米软件 | 型号：ATECLOUD-IC |
| 产品用途：芯片自动化测试 | 规格：根据需求定制 | 是否编程：否 |
| 程控接口：GPIB/RS232/LAN/USB等 | 仪器型号：2000+,可自由选型 | 测试项目：56+,可根据需求定制 |
| 机柜：可定制 | 设备自检功能：支持 | 数据分析：智能分析 |
| 数据报告：可自定义,可导出 | 质保：长期 |
测试产品
芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。
测试场景
研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。
快速搭建方案 一键测试
56+测试项目，也可根据实际测试需求定制测试项目
2000+仪器型号，用户按需求选择仪器型号
界面清晰易懂，操作简单
封装指令，拖拽快速搭建测试方案和项目，搭建完成一键运行
实时观测测试过程，评估产品是否合格
ATECLOUD fct测试设备解决痛点
人工手动测试，效率低，需要提高测试效率和准确性;
测试产品种类繁多，测试方法多样，客户需要灵活的解决方案，以适应未来的变化和需求;
记录测试数据量大，容易出错，需要提高测试效率和准确性;
长时间测试，工作量大;
现有软件系统迭代繁琐且耗时，不能持续兼容新产品;
需要满足特定的测试需求，如外购配件等;
需要符合自身芯片测试方法;
需要寻找国产化替代方案。
